中国首创!攻克涉半导体世界难题
【中国首创!攻克涉半导体世界难题】在芯片制造中,不同材料层间的“岛状”连接结构长期阻碍热量传递,成为器件性能提升的关键瓶颈。近日,西安电子科技大学郝跃院士、张进成教授团队通过创新技术,成功将粗糙的“岛状”界面转变为原子级平整的“薄膜”,使芯片散热效率和器件性能获得突破性提升。这项为半导体材料高质量集成提供“中国范式”的突破性成果,已发表在《自然·通讯》与《科学进展》上。 感谢提供信息分享。 好好学习天天向上 aaaaaaaaaaaaaaaaaaaaa
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